牛津儀器科技(上海)有限公司

展位號：H1館  A606        

EBSD探測器

Symmetry S2 EBSD用于分析晶體材料的顯微結(jié)構(gòu)，包括相分布、晶粒、晶界、取向分布、織構(gòu)比例。和EDS聯(lián)用可鑒別材料中的未知相。儀器基于CMOS技術(shù)和光纖信號傳輸?shù)挠布O(shè)計，兼具高速采集和高分辨衍射花樣的優(yōu)勢。在較低的束流條件下最高速度可超過4500點(diǎn)/秒，衍射花樣的最高分辨率為1024*1244像素，角度分辨率可達(dá)到0.05度。探頭可上下擺動，適合TKD模式或大面積采集。配置防碰撞預(yù)警裝置，最大程度地減少誤操作造成的磷屏損傷。適用于各種晶體材料的顯微組織分析，是分析測試機(jī)構(gòu)的理想配置。

能譜儀

Ultim Max系列 EDS用于電鏡中微區(qū)成分的定性、Ultim Max系列 EDS用于電鏡中微區(qū)成分的定性、定量分析。該產(chǎn)品探測器配置大面積硅漂移晶體和低噪音電子電路，內(nèi)置Tru-Q算法，在高計數(shù)率采集時保證具有定量分析的準(zhǔn)確性。配置AZtecLive系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)實(shí)時元素分析；最大有效晶體面積170mm2，在低電壓、小束流條件下依然具有高靈敏性，實(shí)現(xiàn)高空間分辨率。可在4000,000cps下實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確定量分析。配置高級功能Feature后，可實(shí)現(xiàn)顆粒物的大面積統(tǒng)計和某些特征物的自動檢索。

AZtecWave

AZtecWave是結(jié)合EDS快速定量、WDS準(zhǔn)確、產(chǎn)品操作便捷等優(yōu)點(diǎn)的分析平臺，可用于微量、痕量元素、譜峰重疊元素的準(zhǔn)確定量。產(chǎn)品硬件采用羅蘭圓構(gòu)造和全聚焦彎曲晶體，具有更高計數(shù)率和能量分辨率。檢測限可低至100ppm。根據(jù)EDS結(jié)果，自動優(yōu)化WDS采集的參數(shù)設(shè)置。系統(tǒng)自帶標(biāo)樣塊，集成的導(dǎo)航功能可快速實(shí)現(xiàn)WDS分析。